Sistema di prova e metodologia dei test

 Per il sistema di prova ci siamo avvalsi di una scheda madre del produttore ASUS equipaggiata con chipset Intel X38, in particolare è stata scelta il modello “MAXIMUS EXTREME” nota per le sue particolari caratteristiche e la sua propensione a supportare overclock spinti.

Come processore ci siamo avvalsi di un modello della INTEL appositamente inviatoci in versione Box, della famiglia dei Penryn, in particolare è stato scelto il modello Core 2 Duo E8500 che ha una frequenza lavorativa di 3.16Mhz, una Cache L2 di 6MB e un FSB di 1333Mhz, in modo da spingere al massimo le memorie e non avere dei colli di bottiglia nell’effettuare i test.

Al fine di poter testare in maniera opportuna le memorie e farle lavorare alle frequenze dichiarata è stato necessario overcloccare il FSB che sulle attuali piattaforme opera alla frequenza standard di 266 o 333 MHz.

Considerando che il massimo rapporto ottenibile con le schede madri attuali che montano il chipset X38 è: “FSB:RAM=1:2” (il doppio del FSB impostato), per raggiungere la frequenza dichiarata dal produttore pari a DDR3-1600 è stato necessario portare il FSB a 400 MHz.

Il FSB STRAP TO NORTH BRIDGE è stato impostato da bios a 333 e verrà usato sempre a 333 per tutti i test che verranno condotti in laboratorio in questa recensione.

 Impostando da bios il FSB STRAP TO NORTH BRIDGE a 333 e FSB a 400 avremo la seguente situazione:

• Rapporto 1:1 - DDR3 800 MHz.
• Rapporto 5:8 - DDR3 1280 Mhz.
• Rapporto 1:2 – DDR3 1600 Mhz.

Verranno realizzati tre gruppi di test che sono stati progettati per rispondere alle seguenti esigenze:

- Un primo gruppo di test verrà effettuato sottoponendo il kit di memorie a una serie di applicativi di benchmarking mirati a testarne le prestazioni generali. I test saranno eseguiti in modo tale da lasciare fisso il FSB a 400 MHz ed il moltiplicatore della cpu a 9x, in modo da avere una frequenza del processore fissa di 3600Mhz. Verranno variati solo i rapporti “1:1 - 5:8 - 1:2” della memoria in modo da modificare la frequenza di funzionamento della stessa mentre il voltaggio delle memorie resterà invariato a 1.90v. In questa maniera si avrà un test esaustivo alle diverse frequenze di funzionamento di DDR3 800/1280/1600 senza che i risultati vengano influenzati dalla variazione di funzionamento della CPU.

- Un secondo gruppo di test invece verrà effettuato applicando due voltaggi diversi: 1.90 V per simulare un utilizzo quotidiano con voltaggio certificato dal produttore e 2.10 V per simulare un utilizzo spinto, per poter valutare l’eventuale miglioramento di prestazioni in seguito all’incremento del voltaggio. Verranno utilizzati il SuperPI a 1 M per testare la stabilità minima e il SuperPi a 32 M per verificare una stabilità maggiore. In questo caso si lavorerà con i rapporti della memoria e con il FSB allo scopo di trovare le massime frequenze di utilizzo per i due benchmarking al variare delle frequenze.

- Altri ulteriori test verranno eseguiti  con il software SuperPI 1.5 Mod (test 1 M) a vari voltaggi, da 1.90 v a 2.25 v (con passi intermedi di 0,5v), allo scopo di valutare il comportamento del kit al variare del voltaggio applicato, utilizzando i timing pari a 6-6-6-18 (cas-trcp-trp-tras) 7-7-7-18 e 8-8-8-24.

Le massime frequenze raggiungibili sono state individuate aumentando il FSB a intervalli di 5 MHz alla volta, ed eseguendo tutti gli applicativi di benchmarking previsti.

Tutti i test sono stati eseguiti con il sistema operativo di Windows XP SP2 aggiornato con le ultime patches  al momento disponibili e senza particolari ottimizzazioni.

Un riassunto della configurazione di prova la trovare nella tabella sotto:

Le prove sono state fatte volutamente utilizzando una motherboard senza voltmod e con raffreddamento a liquido, per cui i risultati sono replicabili da ciascun utente senza l’utilizzo di particolari accorgimenti e/o sistemi di raffreddamento estremi oppure booster esterni per aumentare il voltaggio alle memorie.

L’unica accortezza è stata quella di posizionare una ventola da 120X120 sulle ram, per migliorare la dissipazione, ma solo ed esclusivamente quando si sono svolti test con voltaggio superiore ai 2.10V.